介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是表征電介質(zhì)材料性能的關(guān)鍵物理參數(shù)，對(duì)于金屬氧化物、工程板材、陶瓷材料（包括陶器和瓷器）、云母絕緣材料、特種玻璃以及各類塑料等高分子材料都具有重要意義。通過(guò)精確測(cè)定這些參數(shù)，可以深入分析材料組成、微觀結(jié)構(gòu)及外界環(huán)境條件對(duì)介電性能的影響機(jī)制，從而為優(yōu)化材料配方、改進(jìn)制備工藝以及開(kāi)發(fā)高性能電介質(zhì)材料提供重要的理論依據(jù)和實(shí)驗(yàn)基礎(chǔ)。這一研究在電子元器件、電力設(shè)備、通信技術(shù)等領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用價(jià)值。

介電常數(shù)測(cè)定儀用途

該儀器用于科研機(jī)關(guān)、學(xué)校、工廠等單位對(duì)無(wú)機(jī)金屬新材料性能的應(yīng)用研究。  

介電常數(shù)測(cè)定儀參考標(biāo)準(zhǔn)

u GB/T 1409-2006 測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長(zhǎng)存內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法；

u GB/T 1693-2007 硫化橡膠 介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測(cè)定方法；

u ASTM-D150-介電常數(shù)測(cè)試方法；

u GB9622.9-88/SJT 11043-1996 電子玻璃高頻介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的測(cè)試方法。

技術(shù)參數(shù)